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江苏集萃有机光电技术研究所有限公司
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固定角椭偏仪 (Fixed Angle Ellipsometer)
型号:M-2000v
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
用于测量单层或多层薄膜厚度d,单层或多层薄膜各层光学常数的测量,如折射率n 及消光系数k。
主要技术指标:
光谱范围:370-1000nm,390个数据点,测量时间:最快0.05s;典型1到5s (370-1000nm全光谱范围),入射角:65度固定,样品台大小:150mm水平样品台,自动Z轴高度,光斑尺寸:普通光斑直径4mm左右,微光斑直径150μm
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
收费标准:
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