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江苏集萃有机光电技术研究所有限公司
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离子减薄仪 (Precision Ion Polishing System)
型号:Leica EM TIC3X
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
离子束(Ar离子)研磨技术适用于任何材料的样品,获得高质量切割截面或者抛光平面解决方案,适宜扫描电镜分析(SEM)和原子力显微镜分析(AFM);该设备可用来测定OLED材料中表面元素分析及高质量截面或者表面的形貌或者晶型分析。
主要技术指标:
1. 离子束密度:10 mA/cm2(单个离子枪); 2. 工作气体:氩气,纯度99.999%; 3.最大样品尺寸:直径不小于20mm,厚度不低于10mm。
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
收费标准:
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