仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
光学薄膜材料、半导体材料
主要技术指标：
光谱测量范围：7800 ~ 230 cm-1(1.5 ~ 50µm)；
光谱仪分辨率: 优于0.16 cm-1;
微区测量: 定位精度0.1µm，可测6.6 µm大小样品透射谱；
全自动样品台：自动调整光阑，自动聚焦，可微区全自动测量；
辐射测量: 可测常温红外到400度变温发射率；
低温测量温度: 10K到室温，±0.2K可控。
服务内容：
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:9点到17点。参数：光谱测量范围：7800 ~ 230 cm-1(1.5 ~ 50µm)；
光谱仪分辨率: 优于0.16 cm-1;
微区测量: 定位精度0.1µm，可测6.6 µm大小样品透射谱；
全自动样品台：自动调整光阑，自动聚焦，可微区全自动测量；
辐射测量: 可测常温红外到400度变温发射率；
低温测量温度: 10K到室温，±0.2K可控。
。附件：光谱仪主机、低温测量、红外显微镜、绝对反射率测量
收费标准：
面议