仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
A多种成像方式（亮场、暗场成像等）
B最大样片尺寸可达8寸，分辨率达0.18um
C先进的检测方式可用于硅片其他材料的失效分析及工艺评估
主要技术指标：
功能/应用范围： A多种成像方式（亮场、暗场成像等） B最大样片尺寸可达8寸，分辨率达0.18um C先进的检测方式可用于硅片其他材料的失效分析及工艺评估
主要附件： A 显微镜物镜头50x 100x 200x 500x 1000x 1500x 2000x B CCD500万像素 C PRIOR纳米平台
主要技术指标： A CCD自动采集系统 B 显微镜调体系统和显微镜控制遥感器系统 C CCD控制器将CCD所采集到的图片信息进行数/模之间的转换系统 D 先进的自动拍摄控制软件和自动保存系统
技术特
服务内容：
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:8:30-17:30。参数：A CCD自动采集系统
B 显微镜调体系统和显微镜控制遥感器系统
C CCD控制器将CCD所采集到的图片信息进行数/模之间的转换系统
D 先进的自动拍摄控制软件和自动保存系统 。附件：A 显微镜物镜头50x 100x 200x 500x 1000x 1500x 2000x
B CCD500万像素
C PRIOR纳米平台
收费标准：
面议