仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
光学薄膜材料、半导体材料
主要技术指标：
主要参数：
光谱范围：7800-350 cm-1
光谱分辨率：优于0.4 cm-1
信噪比：峰-峰噪声值：小于9.65x10-6 Abs
波数精度：优于0.005 cm-1
金刚石ATR附件
10万张红外高分辨谱库。
用途及功能：
利用物质对不同波长的红外辐射的吸收特性，进行分子结构和化学组成分析。
服务内容：
指纹谱分析,成分分析
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:9点到17点。参数：光谱测量范围：7800 ~ 230 cm-1(1.5 ~ 50µm)；
光谱仪分辨率: 优于0.16 cm-1;
微区测量: 定位精度0.1µm，可测6.6 µm大小样品透射谱；
全自动样品台：自动调整光阑，自动聚焦，可微区全自动测量；
辐射测量: 可测常温红外到400度变温发射率；
低温测量温度: 10K到室温，±0.2K可控。
。附件：光谱仪主机、低温测量、红外显微镜、绝对反射率测量
收费标准：
面议