仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
在程序温控下和非震动载荷下测量各种固体材料、薄膜材料、涂层材料、纤维材料、粉末材料、 高温熔体的线膨胀系数测量 烧结温度、软化点温度、相变温度等测量 烧结过程控制研究
主要技术指标：
温度范围：石 英 炉体：-150～1000℃；
碳化硅炉体：RT～1550℃
测量精度：≤3%
样品尺寸：块体材料：Φ6×25 mm；
薄膜材料：15mm×5mm×≤1mm
测试气氛：真空（≤10-4mbar）、氮气、氦气
升温速率：0.01~50K/min
服务内容：
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:周一~周五8:00-17:00。参数：温度范围：石 英 炉体：-150～1000℃；
碳化硅炉体：RT～1550℃
测量精度：≤3%
样品尺寸：块体材料：Φ6×25 mm；
薄膜材料：15mm×5mm×≤1mm
测试气氛：真空（≤10-4mbar）、氮气、氦气
升温速率：0.01~50K/min。附件：无
收费标准：
根据样品情况面议