仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
主要用于集成电路方面芯片测试，如锂电池保护芯片测试、MOSFET输出的PWM芯片高精度差分测试、马达驱动电路测试，使用浮动源，可以叠加出更高的电压、更大的电流。使用多路浮动源叠加的方式，解决特殊器件的测试。
主要技术指标：
采用浮动V/I源/表技术，最大电流±10A、最高电压±40V
单板每通道浮动或分组浮动，浮动电压源可串联，浮动电流源可并联
每通道具备16bit分辨率，自带任意波形发生器和数字化仪
服务内容：
可测试如信噪比（SNR）、总谐波失真（THD）、信纳比（SINAD）、有效位数（ENOB）、互调失真（IMD）等参数。
服务典型成果：
无
用户须知：
收费标准：
面议