仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
JEM-2100F/HR配有高亮度的场发射电子枪，可实现超高分辨率图像的观察，同时还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。可实现TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera一体化控制。
主要技术指标：
1.点分辨率：0.19nm
2.线分辨率：0.14nm
3.加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV
4.倾斜角：25
5.STEM分辨率：0.20nm
服务内容：
无
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:9:00-16:00。参数：1.点分辨率：0.19nm
2.线分辨率：0.14nm
3.加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV
4.倾斜角：25
5.STEM分辨率：0.20nm。附件：无
收费标准：
面议