仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
主要用于固体样品表面的组成、化学状态分析。能进行定性、半定量及价态分析。 广泛应用于聚合物、无机化合物、有机化合物、催化剂、涂层材料、纳米材料、矿石等各种材料的研究，以及腐蚀、摩擦、润滑、燃烧、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究。
主要技术指标：
 X射线光电子能谱（XPS），可使用单色化Al靶X射线源及双阳极Al/Mg靶X射线源，包括大面积XPS（0.8×2 mm），微区XPS（最小选区15 μm）、深度剖析XPS及XPS成像，空间分辨率＜3 μm；
 场发射俄歇电子能谱（AES），包括深度剖析AES；
 扫描俄歇显微成像（SAM）；
 紫外光电子能谱（UPS）等
服务内容：
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:周一到周五。参数： X射线光电子能谱（XPS），可使用单色化Al靶X射线源及双阳极Al/Mg靶X射线源，包括大面积XPS（0.8×2 mm），微区XPS（最小选区15 μm）、深度剖析XPS及XPS成像，空间分辨率＜3 μm；
 场发射俄歇电子能谱（AES），包括深度剖析AES；
 扫描俄歇显微成像（SAM）；
 紫外光电子能谱（UPS）等
。附件：样品要求：
固体样品（面积≤1.0 cm2，高（厚）度≤4.0 mm）或粉末固体样品（≥10 mg）；
真空干燥，不含腐蚀性、易挥发性、磁性及放射性物质。
收费标准：
面议