仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
Junction Leakage; Contact spiking; Hot Electrons; Latch-Up;
Gate oxide defects/leakage; Poly-silicon Filaments; Substrate damage
Junction Avalanche等
主要技术指标：
微光显微镜(Emission Microscope,EMMI)已背学理正是是一种相当有用且效率较高的诊断工具。该设备具备高灵敏度的CCD,可侦测到元件中电子-电洞对再结合时所发射出来的光子，能侦测到的波长约在350nm～1100nm左右。目前此设备广泛的应用于侦测各种元件缺陷所产生的漏电流。
服务内容：
无
服务典型成果：
无
用户须知：
以预约系统设置为准
收费标准：
面议