仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
X射线数字透照检测
主要技术指标：
像素尺寸200um，最小/最大曝光时间130ms/150S,有效区域405mmx505mm,A/D转换14bits，平板类型：非晶硅，闪烁体材料：硫氧化轧
服务内容：
无
服务典型成果：
无
用户须知：
收费标准：
面议