仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
Dage X光检查机测试仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求，用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。由于采用开管（Open Tube）技术，在放大倍数方面远远超过了采用闭管（Closed Tube）技术的X光检测仪达到亚微米级，能满足客户更高精度的需求。
主要技术指标：
尺寸(长x宽x高): 1450 x 1700 x 1970mm
最小聚集光点: 0.95um
X光发射管 380mmX350mmX50mm(xyz)
X 射线管电压范围: 0.13um
数字探测器: 133万像素CMOS数字探测器-10帧/秒的全息”实时”影像成像系统；4200倍系统放大倍率
最大检测面积: 860mm x 900mm x 1180mm(dwh)
最大板尺寸: 508MM x 444MM
最大样本重量: 5 KG
斜角视图: 0-70°(360°全方位检测)
辐射安全标准: 1uSv/Hr(符合欧美标准）
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
面议
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