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霍尔效应测试仪
型号:H-50
制造厂商:美国MMR公司
购置日期:
生产国别:美国
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
试半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍耳系数等。
主要技术指标:
0.5T永磁体与1.4t电磁铁,电磁铁磁场连续可变。 可测温度区域80K-730k连续可变。 电阻率范围10m Ohms-10G Ohms 载流子浓度102-1022cm-3 迁移率10-2-109 cm2/volt*sec 最大样品1cmX1cm,可采用弹簧探针夹持或引线焊接。 样品台配有石英玻璃窗,可测试光激发下电阻率。 允许在真空或特定气体环境测试。
服务内容:
材料、信息、数理等需要测试霍尔效应或电阻率的学科。
服务典型成果:
用户须知:
收费标准:
面议
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