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比表面面积及孔径分布分析仪
型号:TriStarII3020
制造厂商:美国麦克
购置日期:
生产国别:德国
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
用于材料的比表面分析,主要包括全吸附、脱附曲线、BET及Langmuir比表面、平均孔尺寸和单点总孔体积、BJH中孔、大孔体积、面积分布、总孔体积、de Boer t-plot数据处理微孔体积和表面积,厚度公式、αs-plot和f-ratio法、MP法.
主要技术指标:
 比表面测量范围为氮气吸附0.01m2/g 至无上限,氪气吸附0.0001m2/g 至无上限 ;孔径分析范围:3.5 埃~5000 埃;重复性优于1%;三站同时测量。
服务内容:
全吸附、脱附曲线、BET及 Langmuir比表面积、平均孔径和孔体积、BJH吸附/脱附曲线、孔分布等。
服务典型成果:
用户须知:
材料比表面积 0.01m2/g至无上限,孔径分析范围1.0-300 nm。
收费标准:
面议
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