仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
用于8寸半导体晶圆表面particle检测
主要技术指标：
可以检测出8寸硅片表面>0.15um的particle颗粒
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
1000元/时