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扫描电子显微镜-能谱仪
型号:Quanta Inspect &INCA
制造厂商:FEI&OXFORD
购置日期:
生产国别:进口
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
固体样品表面微区形貌观察;材料断口形貌及其内部结构分析;微粒或纤维形状观察及其尺寸分析;固体样品表面微区成分的定性和半定量分析。
主要技术指标:
SEM形貌观察:加速电压:200V~30kV;放大倍数:7~600000X; EDS分析元素:4Be~92U
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
对外服务时间:周一至周五。参数:SEM:高真空分辨率3.5nm,低真空分辨率4.5nm;SEM: 放大倍数范围18-300,000;EDS:Mn的Kα处的分辨率优于132eV;可测元素范围4Be-92U。。附件:SEM:二次电子探测器,背散射电子探测器;EDS:Si(Li)超薄窗;X射线探测器,全数字化脉冲处理器;喷金仪,喷碳仪。
收费标准:
500元/件
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