仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
提供双光束、双单色器、比例记录并由计算机控制的紫外/可见（/近红外）分光光度计测试数据。
主要技术指标：
整个光学系统全部采用涂有SiO2保护层的反射光学元件，全息刻线光栅刻线密度zei高（紫外/可见为1440条/mm，近红外360条/mm）；采用zei先进的四区分段的扇形信号收集的斩波器，确保了每次得到zei准确样品和参比的信号（斩波器运转期间，样品和参比的信号分别单独被各自的黑区信号所校正，波长精度zei高）。仪器的标准波长范围宽：Lambda 750为190～3300nm；UV WinLab软件功能强大，可提供专家模式(Expert mode)运行仪器，为用户提供zei优的仪器参数（实验条件）还可提供特殊应用的数学运算、色度、建筑玻璃、防护玻璃、滤光片及数据库等的软件（高级光谱软件工具包ASSP），可提供的附件zei全。
服务内容：
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:周二、五。参数：1.1 波长范围：175 ~ 3300 nm
1.2 分辩率：0.05 nm～5.0nm（UV/Vis），0.2nm-20nm (NIR)
1.3 杂散光 ：0.00007%T, 在 220, 340, 和370 nm 按ASTM E-387法测量
1.4 波长准确度：±0.08 nm(UV/Vis)，±0.3nm(NIR)
1.5 波长重复性：< 0.005nm，0.02nm（NIR）
1.6 光度计准确度：±0.0020A, NIST 930D方法0.5A
1.7 光度计重复性：<0.00008A, NIST 930D方法0.5A
1.8光度计范围：UV/Vis：8A，NIR：8A
1.9 带宽：0.05nm-5.00nm,0.01nm步进（UV/Vis）；0.02nm-20.00nm，0.04nm步进（NIR）
1.10 基线漂移：<0.0002 A/小时 (500 nm, 0A)
1.11 基线平直：±0.0008A (190 ~ 3100 nm)
1.12噪声：<0.00005 A（0A，500 nm均方根），< 0.00002A（0A，1500 nm均方根）
。附件：预校准氘灯、碘钨灯，自动转换；可放入第三方光源，进行光源评价
光学系统：
3.1双光束光谱仪，使用四区分段的扇形信号收集的斩波器，转动频率大于45Hz.
3.2全息光栅，刻线数：紫外／可见区不低于1440条/毫米，近红外为不低于360条/毫米。
3.3仪器的标准配置即要带有软件控制的主光束遮挡器及软件控制的可进行参比及样品光束的衰减器。
3.4 快速光学台模式转换（Ｑ－ＣＯＭ），可进行附件的快速转换及自动识别
检测器：
紫外可见区域使用高灵敏度的R6872光电倍增管（175nm-860nm）和高性能的InGaAs检测器（860nm-1800nm），近红外区域使用PbS检测器（1800nm-3300nm）
积分球：
方便进行样品测试的150ｍｍ的积分球（专利的 Spectralon涂层）。一体化光路设计，无外接部分，保证测试数据准确性。包含光阱（用于剩余反射测量）。
偏振测试附件：
6.1光路中需内置消偏晶体，保证样品入射光为圆偏振光
6.2 必须包含起偏装置，软件能够自动控制偏振光的角度，扫描波长范围：300nm-2600nm；角度范围：0-360度，步进：0.1度，能够进行全自动偏振扫描。
反射率测量附件：
7.1：角度范围：相对反射和绝对反射测试范围需满足8-68度
7.2：测试模式：相对反射率测试和绝对反射率测试
7.3：操作模式：软件能够自动控制该附件的测试模式和测试角度，实现准确测试
步进扫描测量附件：
8.1：行程：25mm
8.2：步进分辨率：0.05mm
8.3：定位精度：0.0005mm
光学平台附件：
包含可安装与主机上的光学平台附件，其中含60mm直径的Spectralon材质收集球，用户可自行根据需求设计光路
软件：
10.1 WindowXP/Windows7下紫外/可见/近红外分光光度计仪器控制及数据处理软件。包括数据采集（含光谱扫描、时间驱动、多波长测定及定量分析）、记录、处理及储存光谱数据，并进行仪器校验，仪器的控制及附件的控制, 以及试验报告生成器等。
10.2 高级软件包
包括六种独立的应用导向式的模块
10.2.1色度测量模块
10.2.2滤光片测量模块
10.2.3建筑玻璃模块
10.2.4防护玻璃模块
10.2.5光谱数据库模块
10.2.6数学处理模块
收费标准：
面议