仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
仪器采用当前最先进的技术，能够精确地对金属和非金属多晶粉末样品进行物相检索分析、物相定量分析（包括最新的无标样定量分析功能）、多层薄膜物相分析，颗粒大小及粒径分析，基本参数法线形分析、晶胞参数计算和固溶体分析、晶粒大小及微观应力分析。
仪器包括长寿命陶瓷X光管、X射线发生器、高精密测角仪、一维阵列探测器、高低温附件、SAXS小角散射附件、薄膜分析附件、计算机控制系统、数据处理软件、相关应用软件和循环冷却水装置。
主要技术指标：
2Theta角度范围：-110~168°
角度精度：0.0001度
Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管
探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器
仪器尺寸：1868x1300x1135mm
重量：770kg
SC探测器能量分辨率：E＜55%
仪器角度分辨率：D＜40%
角度重现性：σ＜0.002°
2θ准确度：全谱范围内（20°~120°内）所有峰的偏差不超过±0.01°
一维阵列探测器能量分辨率：E＜20%
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
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