仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
用于检测集成电路功能之完整性， 为集成电路生产制造之最后流程， 以确保集成电路生产制造之品质。
主要技术指标：
256 DUTs EPA ± 每个引脚架构500ps ;VI源 8CH：MXDPS， 16CH：MLDPS-16 （S） / MXUVI / MXREF，32CH：MLDPS PMU （± 48V，± 100 mA ）16通道/板 HV 针驱动程序（+5.9V 至 +13.5V）4通道/板PPMU（-2V+ 6V，± 32 mA）每个引脚（FIMV/FVMI） 可编程活动负载（± 12 mA）测量单元：最大 400Mhz） 每个引脚自由运行时钟（最大：200Mhz）3380dTest 选项规格 AD/DA 转换器测试选项 （MXAWI/MXAWI2） 4 AWG/4 DIG （16/24 位） 混合信号测试选项（PXI） 24 位，200MS/s MXUVI （DPS ± 12V，± 1A，CG ±4A ） 16 通道/板 MXDPS （DPS ± 16V， ± 2A ） 8通道/板 MXREF（DPS ± 48V， ± 250mA， CG ± 1A） 16通道/板 MLDPS （DPS + 12V/± 500mA，± 6V/± 1A ，CG最大± 8 A）
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
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