仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
主要用于测试半导体材料及其复合材料的电导率和塞贝克系数
主要技术指标：
测试误差：<3%
测试温度范围：25℃~500℃
样品种类：块体
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
询价