仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
用于功率模块的热分析，支撑封装可靠性设计。1、精准清晰，满足各种尖端测试需求。TiX650 采用 640*480 探测器在超像素技术下达到 1280*960 像素，同时在部分量程达到正负 1% 的精度，满足尖端研发测试需求。
2、多种配置，适应不同测试场景。TiX650 配置了五种不同的可更换镜头可以满足从 10um 到 500 米的测试距离，提供了 120HZ 的高帧频选项，轻松应对激光焊接/流水线跟踪等应用。
3、研发专用软件配套。TiX650 标配 Fluke SMART VIEW R&D 软件,
主要技术指标：
仪器参数:
1.红外分辨率：640？480（307200像素）。
2.高分辨率：1280？960（1228800像素）。
3.IFOV：0.87mRad。
4.视场角：32°？24°。
5.最小焦距：10cm。
6.精度：在25C环境温度下为±1℃或1%（以较大者为准）。
7.激光指示器：有，2级。
8.数码变焦：高达8倍连续变焦。
9.用户可定义标记：有，最多10个。
用户定义的测量方框：有，最多5个。
仪器产地及获得日期：美国 2021年
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
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