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苏试宜特(上海)检测技术有限公司
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老化测试系统
型号:MCC-LC2-H1
制造厂商:MCC
购置日期:
生产国别:美国
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
主要用于验证芯片在高温条件下,加入动态信号,且长时间工作,以评估其使用寿命,并确定其可靠性
主要技术指标:
Support Chip Type:Highpower Product:CPU,Chip Set Max Number of Slot:32 Pattern Vector Depth:8M Pattern Channels:256 Clock Rate:48.8KHz~10MHz Driver Capacity:100mA Driver Voltage:VIH=0~5.0V Device Power Supply:V0~V3&V5~V8=6.0V@60A ;V4=V9=5.0V@8A
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
收费标准:
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