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集萃新材料研发有限公司
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场发射透射电子显微镜
型号:JEM F200 JEOL
制造厂商:日本JEOL
购置日期:
生产国别:日本
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
高分辨场发射透射电子显微镜用于高分子材料、半导体、陶瓷、生物等各种材料,结合能谱仪可以对微区元素含量及分布进行表征,高分辨高速相机可提供 25fps 帧速率 4K*4K 全画幅实时观察。
主要技术指标:
加速电压:20 – 200 kV 点分辨率:0.23 nm @ 200 kV 线分辨率:0.10 nm @ 200 kV HAADF 分辨率:0.16 nm 样品台:TX/TY:± 35°/ ± 30° COMS 相机像素:4K*4K
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
收费标准:
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