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昆山市工业技术研究院有限责任公司
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镀层厚度分析仪
型号:X-Strata980
制造厂商:
购置日期:
生产国别:进口
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
主要技术指标:
镀层厚度测试 测量精度:±0.002mm 重复测量精度:±0.004mm 基座尺寸:324mm×320mm 移动平台:大范围快速定位,微调,电磁锁定 3D扫描行程:10mm 3D扫描驱动:步进伺服驱动,丝杆导轨系统 3D测量:扫描,3D轮廓重组,任意测量 影像系统:高清CCD,640×480 Pixel 移动平台行程:230mm×200mm 移动平台尺寸:320mm×320mm 测量方式:3D测量或2D测量 光学放大倍率:25~110倍(5档可调) 影像大小:600×480 Pixe
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
收费标准:
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