仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
SEM/STEM/EDS
主要技术指标：
1.分辨率：高达 0.8nm@30KV（STEM 模式）、0.8nm@15KV、1.6nm@1KV；束流：5pA～100nA；加速电压：0.02～ 30 kV；系统稳定性：0.2%h；放大倍数12-2,000,000×。
2.可选择的探测器：1）In-lens（SE）：正光轴 in-lens 二次电子探测，实现超快速分析与高分辨成像；
2）In-lens（EsB）：用于材料衬度成像的正光轴in-lens 能量选择背散射探测；in-lens SE 和 EsB 并行成像；
服务内容：
金属材料分析,
服务典型成果：
无
用户须知：
预约使用
收费标准：
面议