仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
主要利用电子束与试样表面的相互作用，产生的信息来观测固体表面形貌，其中主要是样品的二次电子发射。主要用于断裂样品表面形貌分析、显微结构分析等，配合X射线能谱仪可进行微区化学成分分析。
主要技术指标：
分辨率：3.0nm
加速电压：0.2-30KV
放大倍数：5-1000000X
探针电流：0.5PA-5μA
X-射线分析工作距离：8.5mm 35度接收角
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
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