仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
物相，晶体结构，高低温分析，精细结构，缺陷、残余应等
主要技术指标：
用于多晶材料晶体结构定性、定量、指标化、晶胞参数、晶粒尺寸、微观应变、残余应力、织构等表征；多晶多层膜掠入射结构表征；单晶外延膜膜厚、粗糙度、应变、缺陷以及弛豫等的反射率、高分辨衍射、摇摆曲线、倒易空间图像化等；材料高低温原位结构相变和热力学稳定性表征；材料微区的晶体结构表征；晶胞参数、键长、键角、原子占位、占有率等晶体结构信息的Rietveld精修。
服务内容：
无机材料、金属材料的微观结构分析
服务典型成果：
用户须知：
遵照中国科学院对外开发统一管理规定
收费标准：
常规XRD扫描 200元/样品；精准分析 600-2000元/样品，根据具体情况定价。