仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
利用冷场发射产生的电子束对材料表面进行扫描，激发样品产生二次电子、背散射电子等物理信号，并使用相应的探测器检测这些物理信号，以确定样品表面的微观形貌，可进行显微结构的高分辨率、高质量成像。
主要技术指标：
分辨率1nm；最大放大倍数可达30万；配备有EDS，可进行区域元素定量分析。
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
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