仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
检测半导体或非导体材料中杂质浓度及纵向分布
主要技术指标：
"可以侦测所有元素
检测限ppm-ppba
纵向分辩率0.1nm"
服务内容：
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:周一-周五。参数："可以侦测所有元素
检测限ppm-ppba
纵向分辩率0.1nm"
。附件：无
收费标准：
面议