仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
检测半导体或非半导体材料中杂质浓度及纵向分布
主要技术指标：
可以侦测所有元素检测限PPM-ppt 纵向分辨率0.2nm
服务内容：
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:周一至周五。参数：可以侦测所有元素检测限PPM-ppt 纵向分辨率0.2nm。附件：无
收费标准：
面议