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上海旻艾半导体有限公司
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超大规模集成电路测试系统IP750
型号:泰瑞达IP750
制造厂商:泰瑞达
购置日期:
生产国别:美国
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
高速高质量图像传感器测试系统,提供高吞吐量和高并行测试效率、测试覆盖广泛的器件CCD和CIS,模拟和数字采集,并行图像传感器和逻辑测试
主要技术指标:
数字板:测试通道384 测试频率:100MHz LVM:16M DPS:16 ICUD:2 FFU:局部100级净化
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
对外服务时间:工作日。参数:数字板:测试通道384 测试频率:100MHz LVM:16M DPS:16 ICUD:2 FFU:局部100级净化。附件:测试头,电源箱,工作站
收费标准:
面议
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