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功能/应用范围：
应用于各种封装形式的数字、模拟、数模混合集成电路，包括微处理器、接口电路、可编程器件、存储器、A/D、D/A 等器件的工作寿命试验和高温动态老化测试。
主要技术指标：
1、中、小规模集成电路老化系统模组：满足微处理器、接口电路、可编程器件等的工作寿命试验和高温动态老化筛选；数字信号电平为VIH=2.0V～15.0V，VIL≤0.8V；数字信号驱动能力：每路可三态驱动输出；数字信号驱动电流为IOH≥100mA/路，IOL≥300mA/路；数字信号输出信号边沿为Tr≤25ns，Tf≤25ns；模拟信号发生与驱动：每个试验通道均配置独立的4路模拟信号发生及驱动单元电路，波形类型、频率、幅度、直流偏移量均可程控设置。根据被老化器件对信号的要求，从相应的老化数据库图形编辑器中读取ǯ 怂占ᲀ ᲀ뗐窡 窡占ᲀ�窥占ᲀ먡窡㐰ǟრ痁䏠ᑧრ痁჻痁 㟈Ǜ 㟈Ǜ 杻㟈Ǜ㟈Ǜ"翻律㟈Ǜ 디眖ꟆᐬЀ ⍐ᐡ숌ᑔ굠睎 ⍐ᐡ 易䑕蕋易鳂睌Љ 䕄ǯ 哰ᲀ䘼睋鷐睌 ᩄ ㉨ᠯ숌ᑔ ꋔǯ練瑉浥 ᤀ ㉨ᠯ숌ᑔ ꋔǯ𢡄潃湵t꿹ʛ㳰盎 挔ᲀ聴ᲀ窡ﯴ 꿹ʛ觯盅脆盈 ⟠琁䤯뽹焽睑솸ᑔ台ᲀ/ C 䙑眖ࠄ 䙑眖 台ᲀ練敌窟台ᲀ솸ᑔi
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
400元/小时（第1小时）60元/小时（第2小时起）