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上海旻艾半导体有限公司
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超大规模集成电路测试系统V93000Cth
型号:V93000
制造厂商:Advantest
购置日期:
生产国别:日本
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
1:超大规模集成电路芯片的测试,包括package和晶圆测试,处理器芯片 2:高速芯片的测试,如HDMI,USB,SATA,PXI,SERDES,电视/网络设备/硬盘设备接口芯片 3:大规模系统级芯片的测试,包含各种IP,如memory单元,高速模拟单元,射频单元,高速接口单元。 4:超大电流类网络芯片的测试,网络基站类通讯芯片 5:可用于高速/高精度 ADC/DAC测试
主要技术指标:
在数字测试通道数方面:具有高度可扩展性,,可从128 通道扩展至4096 通道(以128 通道为最小扩展单位)。 数字测试速度:具有从100M~1600M 数据率根据要求升级,无需更换板卡 支持多种测试速度的数字通道板卡混插,各类丰富的模拟测试模块可供选择的模拟测试。
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
对外服务时间:工作日。参数:在数字测试通道数方面:具有高度可扩展性,,可从128 通道扩展至4096 通道(以128 通道为最小扩展单位)。 数字测试速度:具有从100M~1600M 数据率根据要求升级,无需更换板卡 支持多种测试速度的数字通道板卡混插,各类丰富的模拟测试模块可供选择的模拟测试。。附件:测试头,电源箱,工作站
收费标准:
面议
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