仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
通过一次离子溅射，SIMS可以对样品进行质谱分析、深度剖析或二次离子成像
主要技术指标：
无
服务内容：
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:周一-周日。参数：无。附件：无
收费标准：
面议