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半导体掺杂浓度测量仪
型号:CVP21
制造厂商:德国WEP公司
购置日期:
生产国别:德国
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程,可以方便直观的测量半导体材料内部的掺杂元素的浓度分布情况,以及PN结形成情况,用于太阳能电池或其它半导体器件工艺优化研发。
主要技术指标:
垂直方向分辨率达到1纳米,测试载流子浓度范围在10E12cm-3 < N < 10E21cm-3
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
收费标准:
面议
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