4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流和脉冲参数测试，实时绘图与分析，适合于半导体器件，微电子器件，光电器件，纳米器件等测试，具有高精度和亚fA级的分辨率能力

直观的、点击式Windows 操作环境 独特的远端前置放大器，将SMU的分辨率扩展至0.1fA 内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储 独特的浏览器风格的软件界面，根据器件的类型来安排测试，可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能 支持 Keithley590 型与 Agilent 4284 型C-V 仪、Keithley 开关矩阵与Agilent 81110 脉冲发生器等多种外围设备 硬件由Keithley 交互式测试环境（KITE）来控制 用户测试模块功能，可用于外接仪表控制与测试平台集成，是KITE功能的扩充 包括驱动软件，支持Cascade Microtech Summit12K 系列、 Karl Suss PA-200、micromanipulator 的8860 自动和手动探针台

为上海旭电子有公福司、上海凯虹科技电子有限公司 、 上海威旭半导体光电有限公司、上海凯虹电子有限公司、迪思科科技(上海)有限公司、明尼苏达矿业制造材料技术（上海）有限公司、苏州松下半导体有限公司 、杭州大和热磁电子有限公司、宁波康强电子股份有限公司、强茂电子（无锡）有限公司 、 苏州固锝电子股份有限公司、江阴市通用电子器件厂、无锡开益禧半导体有限公司、常州银河电器有限公司 、扬州晶来半导体(集团)有限责任公司、苏州群鑫电子有限公司 、宁波市明昕微电子股份有限公司等半导体企业提供产品检测。

无

对外服务时间:/。参数：直观的、点击式Windows 操作环境 独特的远端前置放大器，将SMU的分辨率扩展至0.1fA 内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储 独特的浏览器风格的软件界面，根据器件的类型来安排测试，可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能 支持 Keithley590 型与 Agilent 4284 型C-V 仪、Keithley 开关矩阵与Agilent 81110 脉冲发生器等多种外围设备 硬件由Keithley 交互式测试环境（KITE）来控制 用户测试模块功能，可用于外接仪表控制与测试平台集成，是KITE功能的扩充 包括驱动软件，支持Cascade Microtech Summit12K 系列、 Karl Suss PA-200、micromanipulator 的8860 自动和手动探针台 。附件：/

面议