仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
JEM-2100F场发射透射电子显微镜系日本电子株式会社产品，具有透射（TEM）、会聚束衍射（CBED）及纳米束衍射（NBD）等工作模式，并可与能谱仪联机，进行样品成分分析。其主要功能： 1）利用质厚衬度（又称吸收衬度）像，对样品进行一般形貌观察。 2）利用电子衍射、微区电子衍射、会聚束电子衍射等技术对样品进行物相分析，从而确定材料的物相、晶系，甚至空间群。 3）利用高分辨电子显微技术可直接“看”到晶体中原子或原子团在特定方向上的结构投影，确定晶体结构。 4）利用衍衬像和高分辨电子显微像技术，观察晶体中存在的结构缺陷，确定缺陷的种类，估算缺陷密度。表征纳米结构的有序组装。 5）利用所附加的能量色散X射线谱仪或电子能量损失谱仪对样品的微区化学成分进行分析。 6）利用带有扫描附件和能量色散X射线谱仪，对样品中的元素分布进行分析，确定样品中是否有成分偏析。
主要技术指标：
点分辨率：0.19nm;线分辨率：0.14nm；加速电压：200kv;倾斜角：25；STEM分辨率：0.20nm;放大倍数50-1500000；能谱分析元素范围5B-92U。
服务内容：
提供TEM、HRTEM、EDS、STEM、MAPPING、EELS等测试，测试请标注测试要求 测试须知：1）粉末样品粒径需小于0.1μm，大颗粒粉末样品请先研磨并稀释后再制样；聚合物、高分子等光敏感性材料及具有磁性、放射性、毒性、挥发性的物质不能测试； 2）用户自行制样，电镜室不提供特殊载网。
服务典型成果：
无
用户须知：
用户申请条件、申请方式、申请流程、申请材料、申请方式及服务时间安排与仪器机组人员联系。
收费标准：
面议