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半导体参数测量仪
型号:4200-SCS1F
制造厂商:美国Keithley
购置日期:
生产国别:美国
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
与探针台结合,可进行各种纳米材料及器件的IV、CV、脉冲IV、方块电阻、比接触电阻等微弱小信号电学测量。
主要技术指标:
具有4个中功率源测量单元,1个大功率测量单元,内置脉冲发生器和内置示波器及电容电压测试模块。最大可提供电压200V、电流1A,并且配置3个前置放大器,使得电流分辨率提高到0.1fA,精度达到10fA;内置的双通道脉冲发生器的最小脉宽为10ns,可输出最大电压幅值为40V;电容测试最大扫描电压为40V,可变频率范围为20Hz~1MHz,可测量范围为1fF ~ 100nF。SUSS PM8光电磁全屏蔽高精度分析探针台漏电流小于20fA。 
服务内容:
与探针台结合,可进行各种纳米材料及器件的IV、CV、脉冲IV、方块电阻、比接触电阻等微弱小信号电学测量。
服务典型成果:
与探针台结合,可进行各种纳米材料及器件的IV、CV、脉冲IV、方块电阻、比接触电阻等微弱小信号电学测量。
用户须知:
请提前与设备管理员预约,确认测试方案和价格。
收费标准:
面议
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