仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
金属、陶瓷、半导体、矿物、生物、高分子、复合材料和纳米级一维、二维和三维材料的表面形貌进行观察（二次电子像、背散射电子像）； 可进行微区的点、线、面成分分析； 指定元素在形貌上成象； 晶体材料的晶体取向及微区取向分析、结构分析等
主要技术指标：
"1. 电子枪：肖特基热场发射电子枪；加速电压: 0.02 - 30KV 连续可调； 2. 放大倍率：≥ 900,000倍； 3. 泵系统：磁悬浮涡轮分子泵、离子泵和机械泵； 4. 分辨率：二次电子图像：≥ 1.0 nm (15 kV)； 5. 探测器：二次电子探测器、背散射电子探测器 6. 扫描透射电子探测器（STEM）：带有，明场、暗场探测功能的STEM扫描透射电子探测器； 7. EDS：硅漂移电制冷，探测器面积：不小于50 mm2。"
服务内容：
样品测试
服务典型成果：
无
用户须知：
网上预约
收费标准：
面议