仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
OBIRCH可用于IC芯片内部高阻抗及低阻抗分析, 线路漏电路径分析。利用OBIRCH方法，可以有效地对芯片线路中的缺陷进行检测定位，如线路线条中的空洞、通孔下的空洞、通孔底部高阻区等；也能有效的检测短路或漏电，是发光显微技术的有力补充。
主要技术指标：
利用雷射扫瞄技术的半导体故障定位仪器。它可直接并快速的透过IC正面及背面来找出缺陷位置，当IC在功能与直流测试期间，OBIRCH利用雷射扫瞄IC内部连接位置，并产生温度梯度，藉此产生阻值变化，并经由阻值变化的比对，定出IC故障的位置(阻值变化较大者)。此项技术能缩短找出阻值异常问题，从数日到几分钟，而且讯号/噪声比也能有效被降低改善，并且经由更换高电流的针座，也可进一步分析高电流及电压的组件。
服务内容：
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:周一-周日。参数：无。附件：无
收费标准：
电询