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功能/应用范围:
主要技术指标:
粒度-NIBS 技术可以对0.6纳米至6微米的颗粒和分子进行测量。Zeta电位-M3-PALS技术能够对水分散和非水分散体系中的zeta电位进行精确的测量。分子量-雪崩光电二极管检测器和光纤检测光学装置提供测量绝对分子量所需的灵敏度和稳定性。
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
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