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上海第二工业大学
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热电性能测试装置
型号:ZEM-3(M10)
制造厂商:真空技术株式会社
购置日期:
生产国别:日本
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
可以同时准确快速地测试半导体材料、陶瓷材料、金属材料及其他热电材料(BiTe,PbTe,Skutterudites等)的Seebeck系数和电导率;测试过程无污染、无破坏、快速准确,使用特殊的试样架,块材、糊状物质、薄膜、粉末及其直到熔融状态的样品都可以得到测量;可广泛用于半导体、微电子、航空航天、超导及新材料研发领域。
主要技术指标:
Seebeck系数:   测量方法:静态直流方式   测量范围:10-5V - 10V   测量精度:< ±7% 电导率:   测量方法:四点法方式   测量范围:10-6Ω - 100Ω   测量精度:< ±10% 温度控制:PID方式,RT - 800°C 样品要求:2-4mm方形或圆形,长度6-22mm 测试气氛:高纯度He气(99.9999%)
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
收费标准:
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