仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
各类存储芯片，如NOR, NAND FALSH的老化测试，HTOL,NVCE,EDR等。
主要技术指标：
支持最多32块驱动板；可导入已有的test flow文件.同时支持新建自定义的test flow；显示测试频率(目前支持频率范围：0~100Mhz)，VCC,VIH,Chip ID等参数，并可根据用户需要做参数调整；采用轮询（polling）机制实现芯片的erase、program、read的功能，并支持全芯片的单口，双口，四口的read功能；根据用户芯片datasheet的具体要求调整polling机制的erase、program、read的timeout时间；可以导入用户自定义的pattern,根据需要编入芯片的储存区域，以便满足不同客户别芯片的实际需求；测试整个过程在MessageBox中呈现出来，以Log文件形式存储在用户指定目录下，便于后续实验数据追溯。通过限定start address+block num方式指定用户需要操作（erase或program）的存储区域；测试过程中某颗芯片fail了，测试log中可以show出错误字节和对应错误地址该颗fail芯片状态标志变为1，不参与flow的接下来测试，其他芯片不受影响继续正常往下测试。
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
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