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双球差校正透射电子显微镜
型号:Themis Z
制造厂商:FEI Electron Optics B.V.
购置日期:
生产国别:荷兰
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
用于凝聚态物质的纳米及原子尺度结构及成分表征,包括TEM成像,STEM模式成像、EDX成分表征。
主要技术指标:
STEM空间分辨率:<0.06nm @300 kV TEM空间分辨率: <0.06nm @300 kV
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
收费标准:
询价
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