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功能/应用范围：
Sig400是对LED器件及模组的优化测量系统，并提供了多样光学结构配置强化了测试视场与影像分辨率。Sig40在测试过程中能精准定位待测样品的发光中心，偏差不超过15微米，对裸晶芯片测试时能让测试误差减小到最小
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服务内容：
服务典型成果：
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