仪器详情
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功能/应用范围：
透射电子显微镜（TEM）样品制备的重要设备之一，主要用于对块状材料进行减薄处理，以获得足够薄且平整的样品，以便在高分辨率透射电镜下观察其内部微观结构
主要技术指标：
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
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