胜科纳米 主要从事半导体第三方检测分析服务， 致力于打造专业高效的一站式检测分析平台，为半导体产业链客户提供失效分析、材料分析、可靠性分析等检测分析服务。公司配备全套高端 材料分析及失效分析设备，包括高分辨透射电子显微镜（HRTEM）、 双束聚焦离子束系统( Dual Beam FIB) 、场发射扫描电子显微镜(FESEM) 、飞行时间 二次离子质谱仪 (TOF-SIMS)、X射线光电子能谱仪（XPS/ESCA）等。实验室严格遵循国际实验室管理规范组建，可提供涵盖新材料、新能源、半导体及化工等产业的一站式分析及全面质量解决方案 ，从而协助企业提高产品品质，加速研发进程，有效提升企业竞争力。公司拥有一批理论基础深厚，实践经验丰富的管理、销售及研发分析测试人员，不仅可以提供产品的全面分析测试 ，更可以为相关生产流程提供行之有效的技术咨询等高附加值服务。