仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
超音波主要用来检测、解析IC 内部不同位置的脱层、气洞、裂痕及粘着状况，随着IC 的微细化发展，超音波也将朝向高频，高Dumping、超 微细Beam 的方向发展。
此设备可以用来评估半导体电子业之封胶化合物，适合检查封胶内的微小缺陷：
．封装裂缝
．脱层(Delamination)
．晶粒裂缝
．树脂内气泡
．晶粒附着不良
．焊线不良
闳康科技之超音波检验系统特色可有3D成像， 实时3D成像，0.5um高度分辨率，1000mm/秒高速度，A扫瞄(A-scan)，B扫瞄(B-sca
主要技术指标：
超音波扫瞄显微镜(SAT)的全名为Scanning Acoustic Tomography，一般我们又称为SAM (Scanning Acoustic Microscope)，而我们业界所听到的SAT 是指超音波频率高于20KHz者，它可以穿透一定厚度的固态与液态物质，并检测其结构组成是否有异常。目前使用之介质，通常为纯水。
其检测的基本原理为利用超音波发射源(Probe)透过纯水为介质而传导到待测试片上，经由超音波的反射或穿透等的作用，将此讯号经机台特定软件处理成像。而Probe的选用会因为试片的厚度
服务内容：
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:24小时。参数：１.材料内部的晶格结构，杂质颗粒．夹杂物．沉淀物．2. 内部裂纹. 3.分层缺陷.4.空洞,气泡,空隙。附件：无
收费标准：
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