仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
各类封装芯片的超声波扫描检测，无损检测（SAT)。
主要技术指标：
15M,30M，75M，230M频率探头；
C-SCAN和T-SCAN功能；
软件计算芯片分层比例。
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
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