仪器详情
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功能/应用范围：
半导体参数分析仪是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用多个测量槽和内置低噪声接地单元，可以根据测试要求进行精密配置和测量。
主要技术指标：
技术指标：Fully automatic, high-speed dc characterization of semiconductor devices High resolution, wide range sourcing and measurement. I: 1pA - 100mA, V: 1mV - 100V Maximum 1150 measurement and display points for precise measurement and analysis Flexible gra
服务内容：
无
服务典型成果：
无
用户须知：
无
收费标准：
面议